普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量不同封装类型功率器件(MOSFET、BJT、IGBT等)的静态参数,具有高电压和大电流特性、μΩ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。
普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统配置有多种测量单元模块,模块化的设计测试方法灵活,能够极大方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。
测试项目
● 集电极-发射极电压 VCES、集电极-发射极击穿电压 V(BR)CES、集电极-发射极饱和电压VCEsat
● 集电极截止电流ICES、栅极漏电流IGES
● 栅极-发射极电压VGES、栅极-发射极阈值电压VGE(th)
● 输入电容、输出电容、反向传输电容
● 续流二极管压降VF
● I-V特性曲线扫描、C-V特性曲线扫描、等等
系统优势
1、IGBT等大功率器件由于其功率特点极易产生大量热量,施加应力时间长,温度迅速上升,严重时会使器件损坏,且不符合器件工作特性。普赛斯高压模块建立的时间小于5ms,在测试过程中能够减少待测物加电时间的发热。
2、高压下漏电流的测试能力无与伦比,测试覆盖率优于国际品牌。市面上绝大多数器件的规格书显示,小模块在高温测试时漏电流一般大于5mA,而车规级三相半桥高温下漏电大于50mA。以HITACH Spec.No.IGBT-SP-05015 R3规格书为例:3300V,125℃测试条件下ICES典型值14mA,最大40mA。普赛斯静态系统高压模块测试几乎可以完美应对所有类型器件的漏电流测试需求。
3、此外,VCE(sat)测试是表征 IGBT 导通功耗的主要参数,对开关功耗也有一定的影响。需要使用高速窄脉冲电流源,脉冲上升沿速度要足够快时才能减小器件发热,同时设备需要有同步采样电压功能。

项目 | 最大电压 | 最大电流 | 精度 | 漏电流测试量程 |
---|---|---|---|---|
集电极-发射极 | 3500V | 6000A | 0.1% | 1μA-100mA |
项目 | 最大电压 | 最大电流 | 精度 | 最小电流量程 |
---|---|---|---|---|
栅极-发射极 | 300V | 1A(直流)/10A(脉冲) | 0.1% | 10nA |
项目 | 基本测试精度 | 频率范围 | 电容值范围 |
---|---|---|---|
电容测试 | 0.05% | 0.05% | 0.01pF-9.9999F |
*以上规格如有更新,恕不另行通知。
● 高电压达3500V(最大扩展至10kV)
● 大电流达6000A(多模块并联)
● nA级漏电流μΩ级导通电阻
● 高精度测量0.1%
● 模块化配置,可添加或升级测量单元,可提供IV、CV、跨导等丰富功能的综合测试
● 测试效率高,自动切换、一键测试
● 温度范围广,支持常温、高温测试
● 兼容多种封装,根据测试需求定制夹具
● 集电极-发射极电压 VCES、集电极-发射极击穿电压 V(BR)CES、集电极-发射极饱和电压VCEsat
● 集电极截止电流ICES、栅极漏电流IGES
● 栅极-发射极电压VGES、栅极-发射极阈值电压VGE(th)
● 输入电容、输出电容、反向传输电容
● 续流二极管压降VF
● I-V特性曲线扫描、C-V特性曲线扫描、等等