普赛斯解决方案

利用数字源表(SMU)简化压力传感器特性分析测试

2025年3月7日 1118

本文介绍利用数字源表(SMU)简化气体传感器特性分析测试，重点阐述普赛斯国产化高精度数字源表在压力传感器I-V特性测试中的应用优势，涵盖宽电阻范围测试、四象限工作及...

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利用数字源表(SMU)简化气体传感器特性分析测试

2025年3月7日 892

本文介绍了利用普赛斯国产化数字源表(SMU)简化气体传感器特性分析测试，重点阐述了半导体气体传感器的I-V测试需求及三种多通道测试方案，覆盖Ω~GΩ宽阻值范围。

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利用普赛斯大电流脉冲源完成电流传感器特性参数测试

2025年3月7日 1256

普赛斯CTMS电流传感器测试系统利用大电流脉冲源HCPL100，可精准测量霍尔、罗氏等电流传感器的静态与动态特性参数，包括线性度、响应时间、温度漂移和带宽，单台电流高达...

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普赛斯高精度数字源表(SMU)构建柔性材 料与器件测试系统

2025年3月7日 963

普赛斯高精度数字源表(SMU)构建柔性材料与器件测试系统，解决动态弯折与静态电学测试难题，实现一机多用、精准测量。

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利用数字源表(SMU)简化纳米材料电性能参数测试

2025年3月7日 1053

本文介绍了利用数字源表简化纳米材料电性能参数测试的方法，涵盖纳米材料定义、分类、电性能表征技术（如霍尔效应、电阻率测试、高温原位表征）及典型应用测试方案。

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数字源表在太阳能电池 I-V 特性测试上面的应用

2025年3月7日 1078

数字源表（SMU）在太阳能电池I-V特性测试中应用广泛，能精确测量关键参数，普赛斯提供国产化单/多通道测试方案及多场景应用。

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基于普赛斯数字源表(SMU)的忆阻器 基础性能研究测试解决方案

2025年3月7日 1096

本文介绍了忆阻器的理论基础、结构特性、阻变机制及材料体系，并提供了基于普赛斯数字源表(SMU)的忆阻器基础性能测试解决方案，涵盖直流、交流、脉冲特性及保持力测试。

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普赛斯GaN HEMT射频器件参数测试

2025年3月7日 1177

本文介绍GaN HEMT射频器件的参数测试，包括直流I-V特性、频率特性（S参数）和功率特性（Load-Pull测试），并详述普赛斯S/CS系列源表及P系列脉冲源表等测试系统的应用。

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光电探测器电性能参数测试

2025年3月7日 964

本文介绍了光电探测器（如PIN、APD、SPAD、SiPM）的电性能测试方案，重点阐述了利用普赛斯数字源表进行暗电流、反向击穿电压、C-V、响应度、串扰等参数的测试方法，并涵...

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大功率激光器老化测试系统解决方案

2025年3月7日 1373

本文介绍了大功率激光器老化测试的重要性及挑战，并详细阐述了普赛斯提供的千瓦级半导体激光器在线测试与老化系统解决方案，该系统具备大电流、窄脉冲、高稳定性等优势。

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