普赛斯解决方案

普赛斯PL系列LIV窄脉冲测试系统助力VCSEL的测试应用更高效可靠
2025年3月7日 963
普赛斯PL系列窄脉冲LIV测试系统专为VCSEL激光器测试设计，支持ns级窄脉冲、30A大电流及峰值光功率检测，满足VCSEL在光通信、3D传感等应用中的高效可靠测试需求。
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普赛斯IGBT功率器件静态参数测试解决方案
2025年3月7日 1054
普赛斯提供IGBT功率器件静态参数测试解决方案，包括PMST系列系统，覆盖从实验室到产线的全场景测试，支持高电压大电流、高精度测量，适用于SiC、GaN等宽禁带半导体。
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普赛斯数字源表快速、准确进行三极管(BJT)特性分析
2025年3月7日 839
本文介绍了利用普赛斯数字源表进行三极管(BJT)特性分析的方案，涵盖输入/输出特性、极间反向电流、反向击穿电压及C-V测试，并针对不同功率器件推荐了S系列、P系列及HCP...
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普赛斯S系列、P系列源表简化场效应管（MOSFET）I-V特性分析
2025年3月7日 984
本文介绍了MOSFET I-V特性分析解决方案，涵盖输入/输出特性、阈值电压、漏电流、耐压及C-V测试等关键参数，并针对不同功率规格推荐使用普赛斯S系列、P系列或E系列源表进...
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高精度数字源表(SMU)在二极管特性参数分析中的应用
2025年3月7日 1163
本文介绍了使用普赛斯高精度数字源表（SMU）进行二极管特性参数分析，涵盖正向压降、反向漏电流、反向击穿电压及C-V特性测试，提供不同电流和电压范围的选型建议。
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GaN HEMT射频器件参数测试
2025年3月7日 538
本文介绍GaN HEMT射频器件的参数测试，涵盖直流特性、频率特性和功率特性测试方法，并展示普赛斯仪表提供的S/CS系列源表、P系列脉冲源表及CP系列恒压脉冲源等国产化测试...
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普赛斯IGBT功率器件静态参数测试解决方案
2025年3月7日 262
普赛斯提供IGBT功率器件静态参数测试解决方案，其PMST系列系统可精准测量IGBT等功率器件的静态参数，具备高电压大电流、μΩ级精确测量、nA级漏电流检测能力，支持从实验...
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