功率半导体

GaN HEMT射频器件参数测试

2025年3月7日 538

本文介绍GaN HEMT射频器件的参数测试，涵盖直流特性、频率特性和功率特性测试方法，并展示普赛斯仪表提供的S/CS系列源表、P系列脉冲源表及CP系列恒压脉冲源等国产化测试...

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普赛斯IGBT功率器件静态参数测试解决方案

2025年3月7日 262

普赛斯提供IGBT功率器件静态参数测试解决方案，其PMST系列系统可精准测量IGBT等功率器件的静态参数，具备高电压大电流、μΩ级精确测量、nA级漏电流检测能力，支持从实验...

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