普赛斯GaN HEMT射频器件参数测试 2025年3月7日 1177 本文介绍GaN HEMT射频器件的参数测试,包括直流I-V特性、频率特性(S参数)和功率特性(Load-Pull测试),并详述普赛斯S/CS系列源表及P系列脉冲源表等测试系统的应用。 查看全文