S系列高精度台式源表
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●     5寸触摸显示屏,全图形化操作

●     高至300V低至10pA,最大测试功率30w

●     支持前后面板、2/4线以及GUARD保护

●     多种通讯方式:RS-232、GPIB、以太网

●     全量程输出及测量精度可达0.1%

●     标准的SCPI指令集,便于客户二次开发

●     易搭建半导体电性能测试方案

●     可用于测试半导体的电性能指标:I、V、R

S系列高精度数字源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化源表,集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。

最大输出电压300V,最小电流分辨率10pA,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

型号 最大电压源/量程 最大电流源/量程 最大功率     精度 通信接口
S100 30V 1A 30W 0.1% RS-232/GPIB/LAN
S200 100V 1A 30W 0.1% RS-232/GPIB/LAN
S300 300V 1A 30W 0.1% RS-232/GPIB/LAN

 

*以上规格如有更新,恕不另行通知。

●     5寸触摸显示屏,全图形化操作

●     高至300V低至10pA,最大测试功率30w

●     支持前后面板、2/4线以及GUARD保护

●     多种通讯方式:RS-232、GPIB、以太网

●     全量程输出及测量精度可达0.1%

●     标准的SCPI指令集,便于客户二次开发

●     易搭建半导体电性能测试方案

●     可用于测试半导体的电性能指标:I、V、R

为什么选择S系列数字源表?

  • 性能强大-作为电压源和或电流源,并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小,预防器件损坏。
  • 灵活多样-支持两线制和四线制测量,更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。
  • 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI) ,提供图形化和数字化两种测量结果显示模式,便于使用和查看。

多合一高精密SMU,极致简化测量

传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的,需要多种仪器配合完成测试,对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析,既复杂又耗时,还需占用大量测试台空间。

S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载,其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间,同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”,降低购买测试系统的整体成本。

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四象限工作,可以作为源或负载

电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。第一、三象限即电压电流同向,源表对其它设备供电,称为源模式;第二、四象限即电压电流反向,其它设备对源表放电,源表被动吸收流入的电流,且可为电流提供返回路径,称为阱模式。

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与传统矩阵电源不同,S系列源表在同等功率下,客户可根据实际需求,选择大电压小电流或小电压大电流输出。选择的量程不同,S系列源表的源/阱极限也有区别。

源限度-电压源:

士10V (≤3A量程),土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

源限度-电流源:

土3.15A (≤10V量程),土1.05A(≤30V量程),士105mA (≤300V量程)

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轻松满足常用的测量需求

触摸屏幕上的任意图标,就会出现图像化设置屏幕。在测量前按照向导逐一设置,操作更直观。

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提供的应用程序

- 序列扫描

- 自定义序列

- 数据记录仪:持续输出恒压源测试模式;持续输出恒流源测试模式

- APD管

- 晶体管:MOSFET管测试;三极管测试

- LIV:PIN管扫描测试

- Gummer:双台源表使用同样参数进行扫描

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*二极管完整l-V特性曲线

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