SPA6100半导体参数分析仪
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SPA6100半导体参数分析仪

●    30μV-1200V,1pA-100A 宽量程测试能力

●     测量精度高,全量程下可达0.03%

●     内置标准器件测试程序,直接调用测试简便

●     自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

●     在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

●     提供灵活的夹具定制方案,兼容性强

●     免费提供上位机软件及SCPI指令集

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SPA6100半导体参数分析仪具有高精度、宽测量范围、 快速灵活、兼容性强等优势,产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试。

基于模块化的结构设计,可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持最高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。

搭载专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。

 

特色优势

1、模块化配置:可灵活配置多种测量单元,预留升级空间,方便后期升级

2、图形化界面:内置常用器件模板,可直接调用,并且支持输出三种模式测试报告

3、自动化测试:内嵌低漏电矩阵开关,可自动切换测试电路,实现一键测试功能

4、夹具可定制:支持二极管、三极管、Si及SiC MOS管、IGBT等器件

5、多设备联动:可与探针台、温控模块等搭配使用,温控范围:室温~250℃

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加快半导体材料、芯片器件设计以及先进工艺的开发验证

1、支持直流、脉冲I-V测试

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2、内置专业矩阵开关,提高测试效率

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3、可与多种设备联动使用:晶圆级芯片性能测试需要与探针台联动,可靠性评估会涉及常温以及高低温等条件

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4、三同轴线缆提升小电流测试精度

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图形化软件界面

配合普赛斯自主开发的专业测试软件,SPA6100可轻松实现半导体材料,器件的参数测试。系统内置常用器件模板,如二极管, 三极管,MOSFET。测试过程中,可直接调用,只需简单设置测试参数即可。软件支持测试数据显示,以及曲线绘制。测试完毕 后,可将数据以及曲线导出保存。

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灵活可定制化的夹具方案

针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可 用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiC MOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片 测试。

不同封装类型的夹具

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低压直流I-V源测量单元

型号 精度 最大电压量程 最小电压量程 最小电压分辨率 最大电流量程 最小电流量程 最小电流分辨率
SPA-S100 0.1% 30V 300mV 30μV 1A 100nA 10pA
SPA-S200 0.1% 100V 300mV 30μV 1A 100nA 10pA
SPA-S300 0.1% 300V 300mV 30μV 1A 100nA 10pA
SPA-S100B 0.03% 30V 300mV 30μV 3A 100nA 10pA
SPA-S200B 0.03% 100V 300mV 30μV 3A 100nA 10pA
SPA-S300B 0.03% 300V 300mV 30μV 3A 100nA 10pA

低压脉冲I-V源测量单元

型号 精度 最大电压量程 最小电压量程 最小电压分辨率 最大电流量程 最小电流量程 最小电流分辨率 最小脉冲宽度
SPA-P100 0.1% 30V 300mV 30μV 1A(直流)/10A(脉冲) 100nA 10pA 200μs
SPA-P200 0.1% 100V 300mV 30μV 1A(直流)/10A(脉冲) 100nA 10pA 200μs
SPA-P300 0.1% 300V 300mV 30μV 1A(直流)/10A(脉冲) 100nA 10pA 200μs

高压I-V源测量单元

型号 精度 最大电压量程 最小电压量程 最小电压分辨率 最大电流量程 最小电流量程 最小电流分辨率
SPA-E100 0.1% 1200V 100V 10mV 100mA 1μA 100pA

高流I-V源测量单元

型号 精度 最大电压量程 最小电压量程 最小电压分辨率 最大电流量程 最小电流量程 最小电流分辨率 最小脉冲宽度
SPA-HCP100 0.1% 50V 300mV 30μV 30A(直流)/30A(脉冲) 100nA 10pA 80μs
SPA-HCP200 0.1% 50V 300mV 30μV 30A(直流)/30A(脉冲) 100nA 10pA 80μs
SPA-HCP300 0.1% 100V 300mV 30μV 30A(直流)/100A(脉冲) 100nA 10pA 80μs

电容测量单元

型号 测试频率 测试点数 频率分辨率 频率输出精度 基本精度 内部直流偏置信号 可测参数与量程
SPA-C100 10Hz-1MHz 可编程 5 位 ±0.1% ±0.5% 10mV to 2V (1mV 分辨率) / 100uA-20mA |Z| , R, X   0.001mΩ-99.999MΩ

|Y| , G, B   0.1nS-99.999S

Cs Cp   0.01pF-9.9999F

 

*以上规格如有更新,恕不另行通知。

●    30μV-1200V,1pA-100A 宽量程测试能力

●     测量精度高,全量程下可达0.03%

●     内置标准器件测试程序,直接调用测试简便

●     自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

●     在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

●     提供灵活的夹具定制方案,兼容性强

●     免费提供上位机软件及SCPI指令集

1、纳米材料:电阻率、载流子迁移率、载流子浓度、霍尔电压

2、柔性材料:拉伸/扭转/弯折、V-t、I-t、R-t、电阻率、灵敏度

3、IC芯片:O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O Pin IV曲线

4、分立器件:BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、输出/转移/CV曲线等

5、光电探测器:暗电流ID、结电容Ct、反向击穿电压VBR、响应度R

6、钙钛矿电池:VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh

7、LD/LED/OLED:Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲线

8、传感器/忆阻器:V-t、I-t、R-t、直流/脉冲/交流IV测试

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